ZS1-AV6334光率計是種智能化、度、靈敏度的光率計，可行寬動態(tài)范圍、度光率測量、分辨率的損耗測量和穩(wěn)定度測試。配備GPIB接口和RS232接口，可組成自動測試系統(tǒng)。廣泛用于光通信設(shè)備、光纖、光無源器件的測試，具有率范圍寬、測試度、性價比、可靠性好、操作簡單等點。該產(chǎn)品為系列光率計，分為ZS1-AV6334A、ZS1-AV6334B、ZS1-ZS1-AV6334C、ZS1-AV6334D、ZS1-AV6334E五種。
光率計型號：ZS1-AV6334
主要點：
● 調(diào)零能
● 量程自動、量程保持和手動切換能
● 波長響應(yīng)補償能
● 數(shù)據(jù)存儲、回看、輸出能
● 分光比及分光損耗測試能(ZS1-AV6334B，ZS1-AV6334C型)
● 參數(shù)設(shè)定能
● 測量應(yīng)用能
● GPIB和RS232接口能
●調(diào)零能
該產(chǎn)品提供了用戶手動調(diào)零能。該能可消除光電探測器的暗電及噪聲所產(chǎn)生的等效率，對于-50dBm以下的微弱輸入光率，可行遮光調(diào)零，再行測試，這樣可以提測量度。
●量程自動、量程保持和手動切換能
該產(chǎn)品提供了量程自動、量程保持和手動切換能。用戶可根據(jù)被測光率變化范圍、變化速度的不同，采取不同的量程方式行測試。例如，對于變化范圍不足10dB的輸入光率，選擇量程保持能，可節(jié)省量程自動切換方式下所消耗的時間，大大提了測量速度。
●波長響應(yīng)補償能
為滿足用戶對波段范圍內(nèi)的率測試，該產(chǎn)品內(nèi)置了與光電探測器相符的波長響應(yīng)補償曲線。另外，該產(chǎn)品還可根據(jù)用戶的殊要求，對某些殊波長點行校準。
●數(shù)據(jù)存儲、回看、輸出能
該產(chǎn)品為用戶提供了測試過程中的數(shù)據(jù)存儲、數(shù)據(jù)回看、數(shù)據(jù)輸出能，以方便用戶對紀錄的數(shù)據(jù)行后期處理。
●分光比及分光損耗測試能
該產(chǎn)品系列中的ZS1-AV6334B，ZS1-AV6334C光率計，還為用戶別提供了分光比及分光損耗測試能，非常適合光耦合器等無源光器件制作過程中的率分配和率損耗的監(jiān)測。
●參數(shù)設(shè)定能
為方便測試，該產(chǎn)品提供了參數(shù)設(shè)定能，諸如用戶自定義波長λ、相對測量參考率值REF、用戶校準因子CAL、GPIB地址、分光比設(shè)定CPLR、時鐘CLOCK等參數(shù)，用戶均可根據(jù)需要行設(shè)定。
●測量應(yīng)用能
該產(chǎn)品為方便用戶使用，別提供了測量應(yīng)用能，如測量值MAX、值MIN、值DIF能，可用于輸入光率的穩(wěn)定度相關(guān)的測試。
●GPIB和RS232接口能
該產(chǎn)品提供了GPIB接口和RS232接口。RS232接口可用于測量數(shù)據(jù)實時輸出。GPIB接口可用于與其它GPIB設(shè)備及PC機組成自動測試系統(tǒng)。
典型應(yīng)用：使用ZS1-AV6334光率計測量光源的輸出光率大小和輸出光率穩(wěn)定度。
將光源的率輸出端口與光率計的率輸入端口用光纖跳線相連，開機行預(yù)熱，設(shè)定光率計的測量波長與光源中心波長*，則測量顯示值即為光源輸出光率大小。
根據(jù)測試要求，在測量應(yīng)用提供的值MAX測試、值MIN測試、值DIFF測試三個能中選擇個，開啟運行，同時儀器時鐘從零開始計時。在規(guī)定的測量時間內(nèi)，光率計能夠自動測試并紀錄測量值，測量時間到后，停止值測試，則值測量顯示值即為光源輸出光率的穩(wěn)定度。
典型應(yīng)用二：使用ZS1-AV6334光率計測量光耦合器的分光比。
用光纖跳線將光源輸出口和光耦合器輸入端連接，將光耦合器的兩個輸出端分別用光纖跳線接入ZS1-AV6334B或ZS1-AV6334C光率計的兩個輸入通道。按下“方式”鍵，光率計從普通測量模式入分光比測試模式，儀器顯示的測量值即為分光比和總率損耗。ZS1-AV6334B或ZS1-AV6334C為用戶提供的這別能，非常適合光耦合器等無源光器件制作過程中的率分配和率損耗的監(jiān)測。
規(guī)范：
| | ZS1-AV6334A | ZS1-AV6334B | ZS1-AV6334C | ZS1-AV6334D | ZS1-AV6334E | | 通道1 | 通道2 | 通道1 | 通道2 | 通道1 | 通道2 | 通道1 | 通道1 | | 波長范圍*1(nm) | 1000～1650 | 400～999 | 800～1650 | 400～1100 | 800～1650 | 400～1100 | | 探測器類型 | InGaAs | Si | InGaAs | Si | InGaAs | Si | | 率范圍 | -80～+10dBm | 率準確度*2
(-25.00dBm) | ±0.2dB | 率準確度*3
(+10～-80dBm) | ±0.5dB±50pW | | 通道*性*4(-25.00dBm) | / | ±0.1dB | / | / | | 數(shù)據(jù)輸出速率*5 | ≥2個/秒·通道 |
注1：校準波長為850nm、1310nm、1550nm。
注2：當天校準，環(huán)境溫度23℃±5℃，恒溫，F(xiàn)C適配器，連續(xù)波。
注3：環(huán)境溫度0℃～40℃，恒溫，F(xiàn)C適配器，連續(xù)波。
注4：當天校準，環(huán)境溫度23℃±5℃，恒溫，F(xiàn)C適配器，連續(xù)波。
注5：RS232接口輸出。
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