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北京恒奧德儀器儀表有限公司
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直接恒奧德測(cè)厚儀測(cè)量注意事項(xiàng)
點(diǎn)擊次數(shù):1010      更新時(shí)間:2020-11-02

                               直接恒奧德測(cè)厚儀測(cè)量注意事項(xiàng)

 

用于測(cè)定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構(gòu)件在制和檢修時(shí)測(cè)量其厚度,以便了解材料的厚薄規(guī)格,各點(diǎn)均勻度和材料腐蝕、磨損程度;有時(shí)則要測(cè)定材料表面的覆蓋層厚度,以保證產(chǎn)量和安。根據(jù)測(cè)定原理的不同,常用測(cè)厚儀有聲、磁性、渦、同位素等四種。

 

聲波測(cè)厚儀聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的,但在同介質(zhì)中聲速是常數(shù)。聲波在介質(zhì)中傳播遇到二種介質(zhì)時(shí)會(huì)被反射,測(cè)量聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時(shí)間,即可將這間隔時(shí)間換算成厚度。常用于測(cè)定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度,也用于校核件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測(cè)厚儀多是攜帶式的,體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近,厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對(duì)于鋼材,大測(cè)定厚度達(dá)2000 mm左右,度在±0.01~±0.1 mm之間。

 

磁性測(cè)厚儀在測(cè)定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí),測(cè)定值會(huì)因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測(cè)知覆蓋層厚度值。常用于測(cè)定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

 

渦測(cè)厚儀當(dāng)載有頻電的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí),由于頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦,此渦產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈,使其阻抗發(fā)生變化,此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關(guān),因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他緣覆蓋層的厚度。

 

同位素測(cè)厚儀利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理,可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片,塑料膜,紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

 

使用注意事項(xiàng)

測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有:磁性測(cè)厚法,放射測(cè)厚法,電解測(cè)厚法,渦測(cè)厚法,聲波測(cè)厚法。

 

測(cè)量注意事項(xiàng):

 

⒈在行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

 

⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

 

⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

 

⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。

 

⒌測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng),如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

 

⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量,因?yàn)榘愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

 

⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定,否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。

 

⒏在行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸,因此聲波測(cè)厚儀在行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)